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  • XAU-4C(B)國產膜厚儀 電鍍測厚儀

    國產膜厚儀 電鍍測厚儀 1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm²(加長測量時間可小至0.01mm²)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。 4.*的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。 5.高性能探測器

    更新時間:2025-08-28
    型號:XAU-4C(B)
    廠商性質:經銷商
    瀏覽量:3229
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